【導讀】要想成功地解決EMI/EMC問題并非易事。它需要時間、策略，需要保持冷靜的思考，有時還需要憑借來自經(jīng)驗的特殊“第六感”去判斷，因為在某些情況下，您所遇到的問題甚至與被測設備無關。
下面我舉兩個異常“問題”的實例來解釋以上陳述。在對不是由被測設備引起的輻射發(fā)射進行故障診斷時，我發(fā)現(xiàn)了兩個異常問題。一個問題是在我的實驗室中發(fā)現(xiàn)的，另一個問題則出現(xiàn)在離我大學很近的一家小公司中。
一天，在實驗室我試圖解決某臺設備的輻射發(fā)射問題。通常，我會從帶屏蔽室的實驗室中獲取某些發(fā)射結果，但只能作為參考數(shù)據(jù)，因為我并沒有暗室。然后，我試圖找到實驗室中有問題的頻率，確定底噪，然后在被測設備工作時對其進行調(diào)試。
在圖1(左)中，您可以看到設備被測量前的底噪情況。位于88～108MHz的FM調(diào)頻廣播發(fā)射機的發(fā)射可以明確確定。該測量結果在屏幕中保存為參考值。
圖1：左圖顯示底噪，右圖顯示輻射發(fā)射（紅色）和底噪（藍色），但右圖中在135 MHz - 235 MHz范圍內(nèi)底噪較高。原因是什么呢?
然后，我們測量了被測設備的輻射發(fā)射，如圖1右圖所示。我們發(fā)現(xiàn)了數(shù)字時鐘的輻射發(fā)射，同時發(fā)現(xiàn)了在135MHz-235MHz頻率范圍內(nèi)還有其它寬帶發(fā)射。我們試圖在被測設備中找到這些輻射發(fā)射，但始終未能成功找到。請注意從最初圖1(左)中顯示的藍色跡線看，并沒有看到如圖1右 圖中所顯示的較高的底噪。
更復雜的是，我們發(fā)現(xiàn)該處并不是一直有輻射發(fā)射，如圖2所示。圖2較高的底噪掩蓋了一些來自被測設備的輻射發(fā)射。
圖2：較高的底噪掩蓋了一些來自被測設備的輻射發(fā)射。
我們試圖找到被測設備印刷電路板(PCB)附近的“間歇性”輻射發(fā)射， 卻始終未果。到底是哪里出錯了呢？
后來，我注意到焊臺(如圖3所示)有時會因焊接需要進行開啟或關閉。
圖3：實驗室的儀器包括焊臺等。
圖4顯示了兩種情況下測得的底噪。您可以看到兩者之間的差別。
圖4：開啟及關閉焊臺時的底噪（被測設備關閉）
我們發(fā)現(xiàn)原來是這臺“無辜”的焊臺惹的禍，弄得我們暈頭轉向，曾一度妨礙我們作出問題診斷。看來電磁干擾真的是很強大，不可小覷！
第二個例子與第一個類似。當時我們正在離實驗室不遠的一家公司用電力電子轉換器測試一個系統(tǒng)。
當我們在3m處測量輻射發(fā)射時，我們注意到在低頻區(qū)域發(fā)現(xiàn)了大量輻射發(fā)射，如圖5所示。
圖5顯示被測設備的底噪(黃色)和輻射發(fā)射(紫色)。
圖5：顯示被測設備的底噪（黃色）和輻射發(fā)射（紫色）。
利用近場探頭我們發(fā)現(xiàn)輻射信號并非來自被測設備。似乎噪聲并非是底噪(屏幕上終止的黃色跡線)。是哪里出錯了嗎?
憑著對焊臺的了解和自身經(jīng)驗，我開始環(huán)顧四周，試圖尋找影響信號的因素。突然，我發(fā)現(xiàn)與一組近場探頭搭配使用的便攜式頻譜分析儀正在充電，如圖6所示。
圖6：便攜式頻譜儀通過充電器連接到AC電源
我把充電器拔下來。輻射發(fā)射立即從儀器屏幕上消失(如圖7所示)。
圖7：拔下射頻儀的充電器后背景發(fā)射降低
經(jīng)驗證明，在實驗室進行輻射或傳導發(fā)射的故障診斷時必須小心謹慎、思慮周全。在故障診斷過程中注意查看工具；查看并確保在您所測的頻段內(nèi)沒有受到充電器、焊臺、燈具等設備輻射發(fā)射的影響；不斷檢查底噪；一定要仔細查看，慎之又慎。
請記住，這類問題也會出現(xiàn)在屏蔽室中。在調(diào)試發(fā)射問題時，請查看室內(nèi)是否有焊臺或充電器等設備正在運行。
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文章來源于電子技術設計。
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