【導讀】安捷倫日前宣布推出最新強大的自動夾具移除（AFR）選件。該選件主要用于旗下的 PNA 系列網絡分析儀。早前，這項誤差校正技術僅在安捷倫物理層測試系統（PLTS）軟件中提供。自動夾具移除（AFR）選件能夠成就業界最輕松、最快速的非同軸器件精確測量，幫助工程師減少時間和資金的投入。
如今，許多器件都沒有同軸連接器，只能通過夾具才能在同軸環境下進行測量。然而，要獲得完美的被測件測量結果，需要精確去除夾具效應。盡管可以通過 EM 電磁仿真軟件的建模，或者在基板上構建多個校準標準件來表征和去除夾具效應，但這些方法非常繁雜而且耗時。
安捷倫最新的 PNA AFR 選件可幫助工程師快速、精確地去除非同軸器件測量環境中的夾具效應：工程師可以使用快捷的五步向導程序完成必要操作，然后將去嵌入文件保存為多種格式，以便日后在 PNA、PLTS 和先進設計系統軟件中使用。
使用 AFR 選件時，工程師必須首先對夾具輸入端的參考面進行同軸校準；然后再測量一個或多個標準件，將其作為夾具的 2 端口直通通道，或者充當開路或短路的半端接夾具。如果只使用單端口的 AFR，實施夾具去嵌入的過程可以更快。在被測件安裝之前先對實際夾具的測量作為開路狀態, 之后，AFR 選件會自動表征夾具，并將夾具效應從測量結果中去除。目前的 PLTS 軟件也具備了單端口 AFR 功能。
安捷倫元器件測試事業部營銷經理 Steve Scheppelmann 表示：“最新 AFR 選件的精度可與板上TRL校準相媲美，但實現起來更為輕松。對于不熟悉 AFR 的微波工程師，為了精確地校正夾具效應，他們完全不必再去執行復雜的 EM 仿真或構建板上校準套件。而對于熟練使用 AFR 的信號完整性工程師，他們也能受益于 AFR 選件的單端口功能，從而顯著節省測試時間。”
有關最新 AFR 選件的更多信息，請訪問：www.agilent.com/find/pna 和www.agilent.com/find/AFR007。瀏覽圖片，請訪問：www.agilent.com/find/AFR007_images。
安捷倫將在 2014 IEEE MTT-S 國際微波會議上展示最新的 AFR 選件以及其他 20 款最新設計和測量解決方案。會議預定于 6月 1 日 至 6 日在美國佛羅里達州坦帕市舉行，安捷倫位于 1133 展臺。安捷倫合作伙伴的展臺與安捷倫相鄰，他們將展示的解決方案包括：建模和器件表征，半導體制造，IC、晶圓和 PCB 設計、測試和原型制造，天線測量系統和測試暗室以及定制系統等。此外，安捷倫高頻技術中心研發經理 Robert Shimon 博士將于 6 月 3 日星期二上午 10:05-10:45 在 MicroApps 劇院發表主題演講，題目是《數字市場如何推動微波技術發展》。而安捷倫元器件測試事業部研發經理 Bob Schaefer 將于 6 月 5 日星期二下午 2:05 在MicroApps 劇院發表 AFR 主題演講，題目為《最新校準方法提高夾具器件的測量精度》。
